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Difratometria de RX em policristal (pó) à temperatura ambiente (XRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Os difratogramas de raios X de amostras policristalinas são adquiridos num difratómetro de pó de raios X equipado com óptica twin-twin (Bragg-Brentano e geometria de feixe paralelo com espelhos Goebel) para DRX convencional em pó, DRX de incidência rasante e reflectometria de raios-X. O difratómetro trabalha com radiação Cu Ka (tubo cerâmico de 2,2kW, atenuação de linha beta com filtro de folha de Ni ou por meio do espelho Goebel). Sistema de detecção: detector 1D LynxEye (Silicon Drift Detector) com cobertura e ângulo de ~3º e com resolução em energia de ~25%.

Técnica:
  • Difração de raios-X (XRD)
Método:BB-XRD, Difração de Raios-X na geometria de Bragg-Brentano (reflexão)
Produto analisado:
  • Amostras policristalinas
Forma de acesso
  • Físico
Modos de acessos
  • Pago
  • Gratuito (com condições)
Disponibilidade geográfica
  • Mundo
Idiomas
  • Inglês
  • Português
Tags:

Perguntas frequentes
José António Paixão

CFisUC

Responsável
Pedro Sidónio Pereira da Silva

Universidade de Coimbra

Técnico
Serviço prestado porTrace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)