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Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL é uma plataforma analítica de UC de suporte a todas as atividades de I&D que requerem informação detalhada ao nível vestigial (sup-ppm) sobre composição elementar, complementada com imagiologia de alta resolução e/ou medição de propriedades físicas.

18 serviços disponíveís

Análise de fluorescência de RX (XRF) por espetrometria dispersiva em energia (SEM/EDS)

Obtenção de espectros de fluorescência de raios-X por excitação de feixe eletrónico (espectroscopia EDS)

Análise quantitativa elementar por espetrometria de massa (ICP-MS)

Análise quantitativa elementar por espetrometria de massa (ICP-MS), em soluções aquosas diluídas

Análise Térmica Simultânea (STA) - Termogravimetria (TG) + Calorimetria Diferencial de Varrimento (DSC)

Medição simultânea de variação de entalpia e de massa, em processos de aquecimento e arrefecimento, entre 20 e 1000 ºC para estudo e caracterização termodinâmica de transições de fase, decomposição térmica, etc.

Aquisição de imagem por Microscopia de Força Atómica (AFM)

Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).

Caracterização de filmes finos e multicamadas por refletometria de RX (XRR)

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)

Caracterização de filmes finos e revestimentos por difração de raios-X em incidência rasante (GIXRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Difratometria de RX a temperatura variável (XRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Difratometria de RX em policristal (pó) à temperatura ambiente (XRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-ebubição

Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-eubição, para uso em preparação de amostras para análise por ICP-MS

Magnetometria de amostra vibrante (VSM)

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica VSM

Magnetometria de Torque (TqM)

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica de magnetometria de torque

Medição da espessura de filmes finos por espectrometria de raios-X (XRF)

Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)

Medição de calor específico (Cp)

Medição do calor específico (Cp) em função da temperatura e campo magnético aplicado.

Medição de propriedades de transporte elétrico (ETO)

Medição de propriedades de transporte elétrico (resistividade, efeito de Hall, I(V) e dI/dV) na gama de temperaturas 1.8 K-400 K e campo magnético 0-9 T.

Medição de propriedades de transporte térmico (TTO)

Medição de propriedades de transporte térmico

Revestimento com carbono de amostras para SEM

Revestimento por película de cabono de amostras para análise/imagem por microscopia eletrónica de varrimento SEM

Revestimento metálico por sputtering de amostras para SEM

Revestimento metálico de amostras para microscopia eletrónica de varrimento (SEM) por sputtering