Medição simultânea de variação de entalpia e de massa, em processos de aquecimento e arrefecimento, entre 20 e 1000 ºC para estudo e caracterização termodinâmica de transições de fase, decomposição térmica, etc.

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Aquisição de imagem por Microscopia de Força Atómica (AFM)

Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)

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Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).

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Caracterização de filmes finos e multicamadas por refletometria de RX (XRR)

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)

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Caracterização de filmes finos e revestimentos por difração de raios-X em incidência rasante (GIXRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

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Difratometria de RX a temperatura variável (XRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

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Difratometria de RX em policristal (pó) à temperatura ambiente (XRD)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

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Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-ebubição

Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-eubição, para uso em preparação de amostras para análise por ICP-MS

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Magnetometria de amostra vibrante (VSM)

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica VSM

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Magnetometria de Torque (TqM)

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica de magnetometria de torque

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Medição da espessura de filmes finos por espectrometria de raios-X (XRF)

Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)

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Medição de calor específico (Cp)

Medição do calor específico (Cp) em função da temperatura e campo magnético aplicado.

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Medição de propriedades de transporte elétrico (ETO)

Medição de propriedades de transporte elétrico (resistividade, efeito de Hall, I(V) e dI/dV) na gama de temperaturas 1.8 K-400 K e campo magnético 0-9 T.

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Medição de propriedades de transporte térmico (TTO)

Medição de propriedades de transporte térmico

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Revestimento com carbono de amostras para SEM

Revestimento por película de cabono de amostras para análise/imagem por microscopia eletrónica de varrimento SEM

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Revestimento metálico por sputtering de amostras para SEM

Revestimento metálico de amostras para microscopia eletrónica de varrimento (SEM) por sputtering

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