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Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)

TAIL is an analytical platform of UC aiming to provide support for all R&D activities that require detailed trace (sub ppm) information about elemental composition, complemented with high-resolution imaging and/or measurement of physical properties.

Websitehttps://cfisuc.fis.uc.pt/equipment.php
E-mailtail@uc.pt

18 available services

Carbon coating of samples for SEM imaging/analysis

 Revestimento por película de cabono de amostras para análise/imagem por microscopia eletrónica de varrimento SEM
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Characterisation of thin films and coatings by Grazing Incidence X-ray diffraction (GIXRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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Electric transport properties (ETO)

 Measurement of electrical transport properties (resistivity, Hall effect, I(V) e dI/dV) in the temperature range 1.8 K-400 K and magnetic field 0-9 T.
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Elemental quantitative analysis by mass spectrometry (ICP-MS)

 Elemental quantitative analysis by mass spectrometry (ICP-MS) in diluted aqueous solutions
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Imaging by Electron Scanning Microscopy (SEM)

 Imaging by Electron Scanning Microscopy (SEM)
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Measurement of the thickness of thin films by X-ray fluorescence (XRF)

 Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)
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Metallic coating of SEM samples by sputtering

 Metallic coating of samples for SEM imaging/ analysis by sputtering
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature

 Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica VSM
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Medição de propriedades de transporte térmico
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-eubição, para uso em preparação de amostras para análise por ICP-MS
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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

 Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)
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Simultaneous Thermal Analysis (STA) - Thermogravimetry (TG) + Differential Scanning Calorimetry (DSC)

 Medição simultânea de variação de entalpia e de massa, em processos de aquecimento e arrefecimento, entre 20 e 1000 ºC para estudo e caracterização termodinâmica de transições de fase, decomposição térmica, etc.
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Specific heat measurement (Cp)

 Specific heat measurements as function of temperature and applied magnetic field.
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Torque Magnetometry (TqM)

 Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica de magnetometria de torque
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X-ray Fluorescence Analysis (XRF) via Energy Disersive Spectroscopy EDS

 Obtenção de espectros de fluorescência de raios-X por excitação de feixe eletrónico (espectroscopia EDS)
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