/ Structures / Trace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL) / Services
Characterisation of thin films and coatings by Grazing Incidence X-ray diffraction (GIXRD)
Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.
Os difratogramas de raios Xsão adquiridos num difratómetro de pó de raios X equipado com óptica twin-twin (Bragg-Brentano e geometria de feixe paralelo com espelhos Goebel) para DRX convencional em pó, DRX de incidência rasante e reflectometria de raios-X. O difratómetro trabalha com radiação Cu Ka (tubo cerâmico de 2,2kW, atenuação de linha beta com filtro de folha de Ni ou por meio do espelho Goebel). Sistema de detecção: detector 1D LynxEye (Silicon Drift Detector) com cobertura e ângulo de ~3º e com resolução em energia de ~25%. Para análises no modo de GIXRD, tipicamente é usado o feixe paralelo.
Technique:
- X-ray diffraction (XRD)
Method:GIXRD, Grazing Incidence X-ray diffraction (GIXRD)
Product:
- Amostras policristalinas
Access type
- Físico
Access modes
- Paid
- Free Conditionally
Geographical availability
- World
Languages
- Inglês
- Português
Perguntas frequentes
Service provided byTrace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)