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Powder X-ray diffraction (XRD) at room temperature (XRD)

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)

Os perfis de XRR são medidos num difratómetro de pó de raios X equipado com óptica twin-twin (Bragg-Brentano e geometria de feixe paralelo com espelhos Goebel) para DRX convencional em pó, DRX de incidência rasante e reflectometria de raios-X. O difratómetro trabalha com radiação Cu Ka (tubo cerâmico de 2,2kW, e para XRR é usada radiação Ka1 fitrada por meio do espelho Goebel). Sistema de detecção: detector 1D LynxEye (Silicon Drift Detector) com resolução em energia de ~25% e com elevada gama dinâmica. Está disponível um porta-amostras especial para filmes finos, com sistema de sucção por vácuo e micrómetro para garantir um perfeito alinhamento da amostra.

Technique:
  • X-ray diffraction (XRD)
Method:XRR, X-Ray Reflectometry
Products:
  • Multilayers
  • Thin films
Access type
  • Físico
Access modes
  • Paid
  • Free Conditionally
Geographical availability
  • World
Languages
  • Inglês
  • Português

Perguntas frequentes
José António Paixão

CFisUC

Head of Service
Pedro Sidónio Pereira da Silva

Universidade de Coimbra

Technician
Service provided byTrace Analysis and Imaging Laboratory (TAIL)