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Análise de fluorescência de RX (XRF) por espetrometria dispersiva em energia (SEM/EDS)
Obtenção de espectros de fluorescência de raios-X por excitação de feixe eletrónico (espectroscopia EDS)
Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM)
Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).