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Obtenção de espectros de fluorescência de raios-X por excitação de feixe eletrónico (espectroscopia EDS)

Análise quantitativa elementar por espetrometria de massa (ICP-MS), em soluções aquosas diluídas

Medição simultânea de variação de entalpia e de massa, em processos de aquecimento e arrefecimento, entre 20 e 1000 ºC para estudo e caracterização termodinâmica de transições de fase, decomposição térmica, etc.

Obtenção de imagem por microscopia de força atómica (AFM)

Aquisição de imagem por microscopia eletrónica de varrimento (SEM).

Aquisição de perfis de refletometria de RX (XRR) para caracterização de filmes finos e revestimentos (espessura do filme, rugosidade, etc.)

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) a temperatura variável (ambiente - 1450 ºC) para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Aquisição de difratogramas de RX em materiais policristalinos (pó) à temperatura ambiente para identificação de fases, quantificação ou refinamento estrutural pelo método de Rietveld.

Fornecimento de ácido nítrico ultra-puro, obtido por destilação em sub-eubição, para uso em preparação de amostras para análise por ICP-MS

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica VSM

Medidas de magnetização em função da temperatura (1.8-400K) e campo magnético aplicado (0-9T) pela técnica de magnetometria de torque

Measurement of the thickness of thin films and coatings by X-ray fluorescence (XRF)

Medição do calor específico (Cp) em função da temperatura e campo magnético aplicado.

Medição de propriedades de transporte elétrico (resistividade, efeito de Hall, I(V) e dI/dV) na gama de temperaturas 1.8 K-400 K e campo magnético 0-9 T.

Medição de propriedades de transporte térmico

Revestimento por película de cabono de amostras para análise/imagem por microscopia eletrónica de varrimento SEM

Revestimento metálico de amostras para microscopia eletrónica de varrimento (SEM) por sputtering